太陽(yáng)能銀漿的穩(wěn)定性的快速評(píng)價(jià)方法

       在電子漿料穩(wěn)定性的評(píng)價(jià)上，常規(guī)分析是通過靜置或加速老化的方法，這種方法往往需要長(zhǎng)達(dá)數(shù)月的時(shí)間，這在互聯(lián)網(wǎng)+時(shí)代怎么等得及。雖然有些人采用離心方法，但是您能評(píng)估它的貨架壽命嗎？   

        而有個(gè)儀器就可以很好地解決這些問題，這就是德國(guó)羅姆穩(wěn)定性分析儀器（LUMiSizer）穩(wěn)定性分析儀--縮短研發(fā)周期，幫您更好的解讀配方。對(duì)于任何分層現(xiàn)象，如沉淀、懸浮、固結(jié)，可對(duì)它們?cè)陔x心場(chǎng)中速度分布以及粒徑分布進(jìn)行快速表征。通過指紋圖譜進(jìn)行數(shù)據(jù)化的分析。對(duì)比原始的穩(wěn)定分析試驗(yàn)，基本都是在恒溫恒濕箱中進(jìn)行幾個(gè)月的加速試驗(yàn)，或者干脆就靜置放幾個(gè)月乃至一年，這樣無(wú)法進(jìn)行判斷控制，且肉眼也難以判斷微小的變化。

         使用LUMiSizer測(cè)試穩(wěn)定性比用肉眼在自然重力下觀察試管的分離過程快2300倍。只需數(shù)分鐘或數(shù)小時(shí)，而不是幾個(gè)月或幾年，就能完成分散體在原始濃度下的快速穩(wěn)定性排序和貨架期預(yù)測(cè)，獲得的結(jié)果與正常重力下的結(jié)果一致，可以很輕松的檢測(cè)出不同配方電子漿料的穩(wěn)定性。
         LUMiSizer采用STEP技術(shù)可探測(cè)與時(shí)間，空間相關(guān)的光投射強(qiáng)度,記錄預(yù)選時(shí)間內(nèi)通過整個(gè)樣品（從底部到頂部）的光透射走向，以及通過可探測(cè)的入射光的減弱量化局部分散顆粒濃度的變化。通過透光率-位置圖譜（指紋圖）可定性分析顆粒的分離行為。

主要功能：

①通過平行對(duì)比評(píng)估諸如不同原料配比對(duì)穩(wěn)定性的影響；

②加速考察配方穩(wěn)定性以及計(jì)算產(chǎn)品貨架期；

讓我們來(lái)看看LUMiSizer是如何實(shí)現(xiàn)這兩個(gè)功能的。

篩選配方
        LUMiSizer能將多12個(gè)樣品同時(shí)置于各種溫度和轉(zhuǎn)速之下，設(shè)定一個(gè)輸出實(shí)時(shí)圖像的時(shí)間間隔，將所有的圖像匯集在一個(gè)坐標(biāo)圖中，可以快速直觀的分析穩(wěn)定性數(shù)據(jù)。
         舉例測(cè)驗(yàn)3個(gè)銀漿樣品，設(shè)定條件為25℃，4000轉(zhuǎn)速，在實(shí)驗(yàn)22個(gè)小時(shí)后，終得到1000條譜線。

上圖為銀漿樣品的透光率指紋圖譜。其中，縱坐標(biāo)代表透光率，橫坐標(biāo)代表樣品管位置。

上圖為銀漿樣品每間隔20條譜線顯示一條后的局部放大圖。

        我們發(fā)現(xiàn)隨著實(shí)驗(yàn)的進(jìn)行，該樣品頂部的透光率變高，說(shuō)明有顆粒發(fā)生了沉降。且在實(shí)驗(yàn)初期，譜線的斜率平緩，呈現(xiàn)多分散沉降；隨后譜線的斜率變陡峭，呈現(xiàn)區(qū)域沉降。對(duì)其他2個(gè)樣品也進(jìn)行了穩(wěn)定性測(cè)試，發(fā)現(xiàn)趨勢(shì)和上圖大體一致，我們接下來(lái)分析3個(gè)樣品的不穩(wěn)定性指數(shù)的對(duì)比。
        對(duì)實(shí)驗(yàn)全程時(shí)間內(nèi)3組樣品的不穩(wěn)定性指數(shù)比較如下，從圖可以分辨出，紅色樣品的不穩(wěn)定性指數(shù)低，說(shuō)明其越穩(wěn)定。

      通過對(duì)圖像的數(shù)據(jù)分析，配方師可以判斷銀漿樣品是否達(dá)到預(yù)期目標(biāo)，對(duì)比多種配方的穩(wěn)定性，分析配方應(yīng)該向什么方向做出調(diào)整。在常規(guī)肉眼觀測(cè)下穩(wěn)定性相同的兩個(gè)體系，用儀器來(lái)測(cè)試結(jié)果可能相差甚遠(yuǎn)，它可以幫助配方師發(fā)現(xiàn)細(xì)微隱患，從而做出相應(yīng)的改進(jìn)，大大增強(qiáng)配方的穩(wěn)定性。

        貨架期推算
        同時(shí)利用其相界面追蹤的分析模式，也可以將機(jī)器的加速老化時(shí)間換算成對(duì)應(yīng)的實(shí)際存放時(shí)間，從而得出銀漿樣品在常規(guī)存放下可以保持多久不會(huì)變質(zhì)，也就是對(duì)貨架周期的推算。也即通過不同轉(zhuǎn)速條件下得出的相界面追蹤數(shù)據(jù)，估算其界面遷移速度，從而在較短的時(shí)間內(nèi)估算出產(chǎn)品的貨架周期。整個(gè)實(shí)驗(yàn)進(jìn)行下來(lái)僅僅需要幾天的時(shí)間，效率和準(zhǔn)確度都十分高。

附實(shí)驗(yàn)結(jié)束前后樣品照片：

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